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Fiche 1 2000-09-19

Anglais

Subject field(s)
  • Printed Circuits and Microelectronics
  • Industrial Techniques and Processes
DEF

The maximum change in a specified parameter reading which will permit a microcircuit to be accepted on the specified test, based on a comparison of the final measurement with a specified previous measurement. (Note: When expressed as a percentage value it shall be calculated as a proportion of the previous measured value).

Français

Domaine(s)
  • Circuits imprimés et micro-électronique
  • Techniques industrielles

Espagnol

Fiche conservée

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